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產(chǎn)品中心半導體專用檢測儀器設(shè)備XRDFreiberg-Omega/Theta XRDOmega/Theta XRD- 搖擺曲線測量
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Omega/Theta XRD- 搖擺曲線測量意味著在Theta-scan模式下進行測量，這需要一個測角儀。一個雙晶體被帶入主光束路徑，以減少光譜寬度和發(fā)散度。然而，其副作用是強烈的強度降低。
晶體反射的搖擺曲線表示晶格的質(zhì)量。這可以點下來進行快速檢查，也可以與Mapping工具結(jié)合起來，得到一個質(zhì)量圖。
測量搖擺曲線意味著在Theta-scan模式下進行測量，這需要一個測角儀。一個雙晶體被帶入主光束路徑，以減少光譜寬度和發(fā)散度。然而，其副作用是強烈的強度降低。因此，雙晶體被安裝在一個可伸縮的支架上，以便能夠?qū)⑵?"打開 "或 "關(guān)閉"。
Rocking curves of a 6H SiC crystal measured along a line on spots of 8 mm distance
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